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    Tesis

    “Aplicación de Ensayos de Pérdida de vacío en detectores semiconductores de radiación””

    2023



    TesistaIng. Fernando Andrés Orlando
    Ingeniero Electrónico, Universidad de la Marina Mercante – Argentina.
    Especialista en Ensayos No Destructivos. Instituto Sabato UNSAM/CNEA - Argentina
    Director

    Ing. Horacio Dhers. CNEA, UNSAM – Argentina

    Fecha Defensa07/05/2023
    Jurado

    Ing. Pablo Katchadjian. UNSAM – Argentina
    Dr. Juan Plá. UNSAM - Argentina
    Dr. José BRIZUELA. UNSAM, CNEA, CONICET – Argentina

    CódigoITS/TE 4/23

    Título completo

    “Aplicación de Ensayos de Pérdida de vacío en detectores semiconductores de radiación””

    Resumen

    Los detectores semiconductores son instrumentos empleados en la medición de radiaciones
    ionizantes que, dada sus características de funcionamiento, requieren de un sistema de
    confinamiento de alto vacío al mismo tiempo que necesitan ser operados a temperaturas
    criogénicas. El presente trabajo describe las pruebas que se llevaron a cabo sobre distintos
    detectores para diagnosticar fallas de estanqueidad en criostatos que, según los casos, se
    pusieron de manifiesto mediante la degradación de su eficiencia y su capacidad de resolución en
    la medición de picos característicos de energía, o bien por medio de la presencia de
    condensación en las paredes estructurales del detector (carcasa del criostato y/o dedo frío). En
    algunos casos, previo a dicha degradación, se pudo apreciar una baja temperatura superficial, lo
    cual representa una clara evidencia de caída de vacío, es decir, pérdida de estanqueidad. En este
    documento se desarrollan las tareas realizadas sobre 4 (cuatro) situaciones reales de detectores
    de Germanio hiperpuro que llegaron al laboratorio con problemas de funcionamiento,
    particularmente se seleccionaron aquellos en los que, concretamente, se pudo comprobar que
    su falla radicaba en una degradación de estanqueidad, dado que son los casos en los que son
    aplicables los métodos de Ensayos No Destructivos (END), particularmente inspección visual y
    ensayo de pérdidas mediante espectrometría de helio y no en aquellas fallas debidas a sus
    componentes electrónicos (preamplificadores, circuitos híbridos, FET, etc.) las cuales no son el
    objetivo del presente trabajo. En las labores llevadas a cabo, se aplicaron ampliamente los
    ensayos de pérdidas y de inspección visual a ciertos tipos de detectores de radiación. En base a
    los resultados obtenidos, podemos decir que estas metodologías son ampliamente aplicables y

    completamente comparables para aquellos sistemas que requieran un confinamiento y/o
    aislamiento, debido a que la metodología de inspección y procedimientos de operación son
    semejantes.

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    Abstract


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