Crecimiento de películas delgadas de Yba2Cu3O7_delta por ablación laser y su caracterización estructural y eléctrica
1998
Título | Crecimiento de películas delgadas de Yba2Cu3O7_delta por ablación laser y su caracterización estructural y eléctrica |
Nombre | Villafuerte, Manuel José Licenciado en Física Universidad Nacional de Tucumán Argentina Magister en Ciencia y Tecnologia de Materiales UNSAM |
Directores | Dr. Lamagna Alberto. CNEA Dra. Duhalde Stella. . CNEA Centro Atómico Constituyentes |
Fecha Defensa | 09/06/1998 |
Jurado | |
Código | Código IT IT/T--32/98 |
Resumen
Se crecieron películas delgadas superconductoras de YBa2Cu3O7_delta por la técnica de deposición por laser pulsado sobre substratos monocristales de YSZ, SrTiO3, MgO, LaAlO3 y Si, orientados (100).
Se estudió la influencia de la presión de oxígeno durante el crecimiento, la tasa de deposición en función de la distancia blanco-substrato y la influencia del substrato sobre la calidad estructural y morfológica de la superficie de las películas. El control de las condiciones de crecimiento epitaxial y la calidad de la microestrutura de la película son factores importantes a tener en cuenta para posibles aplicaciones en dispositivos electrónicos superconductores.
Se realizaron estudios por difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido con el objeto de relacionar las propiedades estructurales con las de transporte eléctrico. Los estudios de transporte eléctrico se realizaron a través de mediciones de resistencia eléctrica y de corriente crítica en función de la temperatura. Se complementaron las mismas con mediciones de susceptibilidad magnética ac.
Se encontró una fuerte influencia de la presión de oxígeno sobre las propiedades estructurales y de transporte eléctrico de las películas superconductoras. Se obtuvo un máximo en la temperatura crítica superconductora para presiones de oxígeno mas altas que las publicadas hasta ahora en la bibliografía. Las películas exhiben buenas propiedades estructurales y superconductoras con un bajo número de partículas sobre su superficie.
Se estudió la influencia de la presión de oxígeno durante el crecimiento, la tasa de deposición en función de la distancia blanco-substrato y la influencia del substrato sobre la calidad estructural y morfológica de la superficie de las películas. El control de las condiciones de crecimiento epitaxial y la calidad de la microestrutura de la película son factores importantes a tener en cuenta para posibles aplicaciones en dispositivos electrónicos superconductores.
Se realizaron estudios por difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido con el objeto de relacionar las propiedades estructurales con las de transporte eléctrico. Los estudios de transporte eléctrico se realizaron a través de mediciones de resistencia eléctrica y de corriente crítica en función de la temperatura. Se complementaron las mismas con mediciones de susceptibilidad magnética ac.
Se encontró una fuerte influencia de la presión de oxígeno sobre las propiedades estructurales y de transporte eléctrico de las películas superconductoras. Se obtuvo un máximo en la temperatura crítica superconductora para presiones de oxígeno mas altas que las publicadas hasta ahora en la bibliografía. Las películas exhiben buenas propiedades estructurales y superconductoras con un bajo número de partículas sobre su superficie.
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